top of page

ÇELIK METALOGRAFI ANALIZLERI

          Ağırlıklı olarak metalik malzemelerin optik mikroskop altında mikro yapılarının incelenmesi için, öncelikle numunelerin genelde metalografik yöntemlerle hazırlanması gereklidir. Bu kapsamda kesme ve kademeli yüzey zımparalama parlatma işlemlerinden sonra gerekiyorsa uygun dağlayıcılarla dağlanan numune yüzeyinde yüksek büyütmelere çıkabilen optik mikroskop altında istenen yapılar gözle de görünür duruma gelecektir.

          Metal malzemelerdeki mikro yapı, malzeme ve alaşımın türüne göre değişik renklerde,
tonlarda ve/veya şekillerde olabilir. Mikroskop altında analiz için amacımıza göre maksimum sayıda tanenin görülmesi, çiziksiz ve pürüzsüz bir yüzeyin oluşturulması, kaplama, kaynak, pürüzlülük gibi yapıların daha belirgin hale getirilmesi, ölçümlerinin yapılması açısından en önemli noktalar olarak sayılabilir.

          Yazılım ile yapılan bu ölçümlerle istenen standartlara göre gerekli olan ortalamaları, standart sapmaları, minimum ve maksimum boyutları, grafiksel dağılımları ve/veya yüzdeleri elde edilebilir. Birden fazla farklı bölgede bu çalışmayı yapmak doğru sonuç vermesi açısından önemlidir.

  • Tane Boyutu Analizi (E112)

  •  

  • Faz Analizi

  •  

  • Dekarbrizasyon Analizi

  • Kaplama Kalınlığı Ölçümü

  •  

  • Nitrasyon Tabakası Ölçümü

  •  

  • Isıl İşlem Öncesi/Sonrası Mikroyapı incelemesi

  •  

  • Isıl İşlem Çatlağı İncelemesi

  •  

  • İnklüzyon Analizi ( ASTM E45, DIN 50602, ISO 4957 JIS G 0555, EN 10247

Resim1.jpg
Resim2.jpg
Resim3.jpg
bottom of page